双目、三目金相倒置显微镜 半导体、硅片检测 高倍分析显微镜

           XK-DZ200操作简便，附件齐全，广泛应用于教学科研金相分析、半导体硅晶片检测、地址矿物分析、精密工程测量等领域。高精度粗微动调焦机构采用底手位粗微调同轴调焦机构，左右侧均可调节，微调精度高，手动调节简单方便，用户能够轻松得到清晰舒适的图像。粗调行程为38mm，微调精度0.002；

           机身采用180×155mm的大尺寸械移动平台，右手位设置，符合常规人群操作习惯。用户操作过程中，便于调焦机构与平台移动的操作切换，为用户提供高效的工作环境。