在印制电路板组装制造的自动贴片和焊接过程中,各种制造缺陷不可能完全避免。为了发现这些缺陷并保证质量,需要应用自动光学检测系统(AOI)。由于在回流炉后的缺陷覆盖率能达到较大,所以这些系统通常放在回流炉后,以实现焊后检验。
在各种缺陷中,与IC相关的缺陷占了较大比重。IC包括QFP、TSOP、PLCC、SOIC、BGA、QFN等,通常它们的间距较小为0.5mm,有些IC间距更小。在后续的电气测试和功能检测中,有些缺陷通常很难甚至不可能被检测出来。
即便使用AOI系统进行检测,IC焊点缺陷和IC组装缺陷对检测设备的性能也有较高需求,同时对AOI检测深度有决定性的影响。所以有必要区分装备纯粹垂直式相机和倾斜式相机的AOI设备的不同。
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